Spotlights der Mikro- und Nanotechnologie

Teil 19: Funktionsanalyse und Debug Integrierter Schaltungen auf Chiplevel mit physikalischen Techniken
11.06.2024, 09:00 - 11:00
deutsch digital
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Die digitale Veranstaltungsreihe Spotlights der Mikro- und Nanotechnologie gibt Einblicke in den neuesten Stand über verschiedene Themen und Aspekte der Mikro- und Nanotechnologien. Im Fokus der Veranstaltungsreihe stehen innovative Entwicklungen, aber auch fachübergreifend relevante Themen der Hightech-Branche. IVAM initiiert die Spotlight-Reihe in Zusammenarbeit mit dem Regionalen Berufsbildungszentrum des Kreises Steinburg (RBZ). Die Veranstaltung findet regelmäßig jeden ersten Dienstag des Monats von 9 bis 11 Uhr statt und gewährleistet so einen kontinuierlichen Informationsgewinn.

Was sind die Herausforderungen der modernen IC-Technologien und welche Anforderungen haben sie an die CFI Techniken?

Am 11. Juni 2024 von 9 bis 11 Uhr findet die Spotlight-Reihe zum Thema "Funktionsanalyse und Debug Integrierter Schaltungen auf Chiplevel mit physikalischen Techniken" statt. 

Das IC Schaltungslayout wird virtuell erzeugt und bis auf die Transistorebene heruntergebrochen. Beim sog. First Silicon gibt es dann oft Überraschungen und Funktionsprobleme, die ein Redesign erfordern. Das Produkt muss aber schnell auf den Markt um die riesigen Entwicklungskosten einzuspielen. Viele der Funktionsprobleme können durch elektrische Testverfahren nicht eindeutig einem logischen Knoten – oder einem System von mehreren – zugeordnet werden. Daher wurden für den Chiplevel Verfahren entwickelt, die auf physikalische Wechselwirkungen mit der elektronischen  Aktivität von Bauelementen aufbauen und kontaktlos im Schaltungsinneren den Problembereich identifizieren (Contactless Fault Isolation CFI). Die wichtigsten fußen optisch auf Elektrolumineszenz, Laser Scanning Interaktionen und elektronenmikroskopisch auf dynamischem Potenzialkontrast. Im Verlaufe der Miniaturisierung wurden diese Techniken immer weiter ausgefeilt. 

Inhalte des Vortrags sind unter Anderem:

  • Wirkungsweisen der wichtigsten CFI Techniken in FET und Inverter.
  • IC-Technologien (FinFET, Stacked Nanowire FET, Backside Power Delivery System BPDS).
  • Sicherheitsaspekt für sensible Daten wie Passwörter und Security Codes.

Doch vor welchen Problemen stehen die CFI Techniken in den IC Technologien? Wie kann man diese Herausforderungen und Probleme meistern? Diese und weitere Fragen wird Prof. Christian Boit von der TU Berlin in dieser Spotlight beantworten. 

Die Veranstaltungsreihe richtet sich an Interessierte aus der Hightech-Branche und Fachleute aus den Bereichen Business Development, Forschung & Entwicklung, Geschäftsführung, Projekt- und Produktentwicklung sowie Technologie. 

Bleiben Sie up-to-date mit den Spotlights und melden Sie sich hier an!

Seien Sie bei der etablierten Veranstaltungsreihe Spotlights der Mikro- und Nanotechnologie dabei und verschaffen Sie sich regelmäßig einen Überblick über die neuesten technologischen Anwendungen, Innovationen und überfachlich relevanten Themen der Hightech-Branche! Die Teilnahme ist kostenlos, aber anmeldepflichtig. 

Themen und Termine der nachfolgenden Veranstaltungen werden zeitnah bekannt gegeben.


Ihre Ansprechpartnerin

Jana Schwarze
Project Manager
+49 (0) 231 9742 149

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