IVAM Mitgliedsprofil
IVAM Microtechnology Network
Silizium ist das Basismaterial zahlreicher Bauelemente und Sensoren. Durch die speziellen Halbleitereigenschaften eignet es sich hervorragend als Detektormaterial, mit dem Bestrahlungsstärke, räumliche und energetische Verteilung der eintreffenden Strahlung bestimmt werden kann.
Mit Hilfe von Fotodioden kann Licht über weite Spektralbereiche von tiefen ultravioletten bis in den nahen infraroten (IR) Bereich und über mehrere Größenordnungen der Bestrahlungsstärke hinweg gemessen werden. Im mittleren und langen IR-Bereich können ebenfalls Siliziumtechnologien genutzt werden. Hier werden z.B. auf wärmeunterschieden basierende Thermoschenkel (Thermopiles) für die Erfassung der Bestrahlungsstärke verwendet. Am hochenergetischen Ende des Spektralbereichs wird die ionisierende Wirkung der Strahlung auf den Siliziumkristall genutzt. So kann auch Röntgen- und Gammastrahlung, als auch Teilchenstrahlung wie z.B. Elektronen, Protonen oder größere Ionen mithilfe von Silizium-Strahlungsdetektoren erfasst werden.
Das CiS Forschungsinstitut für Mikrosensorik GmbH erforscht, entwickelt und fertigt Siliziumsensoren und Sensormodule für die Erfassung von Licht und Strahlung verschiedener Energiebereiche. Die Einsatzzwecke solcher Sensoren sind vielfältig und erstrecken sich über Bereiche wie industrielle Prozessmesstechnik, Grundlagenforschung, Medizintechnik und Lebenswissenschaften.
Kontakt:: Dr. Martin Schädel, mschaedel@cismst.de
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