Halb-Automatisches 3D-Messsystem mit berührungsloser optischer Metrologie für Form- und Oberflächenmessungen

Die ISIS sentronics GmbH in Mannheim hat mit dem i-Dex ta ein neues Messsystem mit berührungsloser, optischer Metrologie für 3D-Mikro-Topographien und 2D-Rauheiten an der Oberfläche entwickelt. Die Messtechnik basiert auf dem Verfahren der Weisslicht-Interferometrie und liefert präzise topographische Ergebnisse mit Genauigkeiten von mindestens 10 nm und Rauheiten bis hinunter in den nm Bereich. So können mit dem Sensor Erhebungen und Vertiefungen erfasst werden, welche selbst mit hochauflösenden Mikroskopen nicht mehr quantifizierbar sind.
 
Aufgrund von extrem schnellen Kamera-Modulen gefolgt von entsprechender Auswertelogik werden komplette 3D-Datensätze innerhalb weniger Sekunden aufgenommen, berechnet und angezeigt. Bei Reduzierung des Standard Messfeldes von etwa (0.4 mm)² auf die halbe Kantenlänge sind sogar Zeiten von 1 Sek. möglich.
Durch die Möglichkeit, mehrere gleiche Bauteile auf einer Palette zu vermessen, wird das System oft produktionsnah aufgestellt, da zusätzlich die Messkammer aktiv gegen Vibrationen geschützt ist.
 
Zur Qualitätskontrolle können alle Messdaten mit Hilfe der integrierten Software TopoSpect oder TopoLine auf 3D-Formen, Lagen sowie Rauheiten analysiert und archiviert werden. Somit eignet sich das berührungslose i-Dex ta-System für alle Bauteile in der Automobil- oder Maschinenbauindustrie, die höchste Anforderungen an die Oberflächenrauheiten haben.

Kontakt: Frank Stephan, ISIS sentronics GmbH
f.stephan@isis-sentronics.de